声学极化子自陷和混晶电子-声子耦合理论

作者：

出版社： 中国原子能出版社

CIP号：2015094053

书号：978-7-5022-6620-2

出版地：北京

出版时间：2015.5

定价：￥42.0

本书重点阐述了低维系统中电子与声学声子耦合导致的声学极化子自陷和低维混晶材料中电子与纵长波光学声子相互作用的相关理论，以及元激发理论涉及的一些基本概念。内容包括：晶格动力学基础，周期势场中的电子、电子—声子相互作用问题及处理方法，纯维度低维声学极化子自陷理论，量子阱、slab、量子点中的电子—声子相互作用，纳米线中声学极化子和混晶中电子—声子相互作用。本书是在作者多年从事低维系统电子、声子相互作用及相关问题研究的基础上凝练而成的。对理解低维材料光点特性和开发高性能光电探测器件、LED、LD等有一定的参考价值。